近日，關于手機中SIM卡損壞的現象引起了廣泛關注。不少用戶反映，他們的SIM卡在沒有明顯外力作用下，竟然出現了損壞，導致手機失去信號。

一位用戶分享了他的經歷，他在市中心行走時，手機突然無法搜索到信號。前往營業廳咨詢后，工作人員告訴他，SIM卡因使用時間過長而損壞，更換新卡后，手機功能立即恢復正常。這一遭遇并非個例，網絡上有多位用戶表示，他們的手機在使用中也出現了類似情況，SIM卡無故損壞。

值得注意的是，一些iPhone用戶在OTA（Over-The-Air，空中下載技術）更新系統后，也遇到了SIM卡損壞的問題。其中，知名數碼博主康總@kang也在社交媒體上吐槽了這一現象。

面對SIM卡損壞的疑問，專家指出，盡管SIM卡看似只是一張簡單的卡片，但其工作原理與手機主板上的芯片和元件并無本質區別。SIM卡背面的金屬塊實際上是它的接口，用于與手機主板進行通信，并由手機提供電源。

根據國際標準化組織和國際電工委員會的規定，SIM卡的供電標準包括1.8V、3.3V和5V三種電壓等級。如果手機錯誤地將高電壓供給低電壓等級的SIM卡，就可能導致SIM卡損壞。在手機系統OTA升級過程中，如果涉及SIM卡供電和通信部分的固件更新，確實存在因電壓錯誤導致SIM卡損壞的風險。

然而，這種情況的發生概率并不高，手機制造商在多年的發展中已經對此類問題進行了諸多優化。專家推測，OTA更新系統時手機發熱也可能是導致SIM卡損壞的原因之一，尤其是SIM卡槽位置靠近主板發熱區域的手機，風險可能更大。

除了上述原因，SIM卡長期使用后，接觸部分金手指氧化也可能導致接觸不良，進而影響與手機的通信。當手機與SIM卡的通信失敗時，無法通過基站的身份驗證，從而導致手機失去信號。

遇到SIM卡損壞的情況，用戶無需過于擔心，只需前往營業廳補辦新卡即可。為了徹底解決SIM卡長期使用后可能出現的問題，業界正期待著eSIM技術的普及。eSIM是一種嵌入式SIM卡技術，無需實體卡片，可以降低因物理接觸導致的故障率。

盡管eSIM芯片也可能出現故障，如接觸不良、焊點氧化等問題，但據業內人士透露，這些問題出現的概率遠低于實體SIM卡槽的故障率。對于消費者而言，希望eSIM技術的普及能夠減少SIM卡損壞的煩惱，提升使用體驗。